A JEOL Ltd. (Presidente e CEO: Izumi Oi) desenvolveu o microscópio eletrônico de varredura de bancada (SEM) “JCM-7000Plus” e iniciará as vendas em 1º de setembro de 2026.
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JCM-7000Plus NeoScope™
[Contexto do desenvolvimento]
Os microscópios eletrônicos de varredura de bancada vêm sendo cada vez mais utilizados em setores como o elétrico, o eletrônico, o automotivo, o de maquinário, o siderúrgico, o metalúrgico, o químico e o farmacêutico. Esses equipamentos não são empregados apenas em pesquisa e desenvolvimento, mas também em aplicações relacionadas à fabricação, como o controle de qualidade e a inspeção de produtos. Também são adotados em ambientes educacionais, como escolas de ensino fundamental II e médio e universidades. Dada a diversidade de aplicações, há uma demanda crescente por maior eficiência operacional, operação mais simples e automatizada e melhor desempenho na observação, na análise e na medição.
Para atender a essas necessidades, ampliamos a tensão de aterramento (tensão de aceleração) para 20 kV. Com isso, a resolução foi aprimorada para 6 nm, possibilitando a realização de medições com maior ampliação.
Quanto ao software, o novo JCM-7000 Plus mantém a interface gráfica (GUI) simples e intuitiva do modelo atual, incluindo o Zeromag, que possibilita a transição suave da imagem óptica para a observação por microscopia eletrônica de varredura (SEM), e a função Live Analysis, que permite a análise elementar em tempo real durante a observação. O novo modelo também incorpora o recurso de automação aprimorado Neo Action.
Além das três funções “Live” já existentes (Live Analysis, Live Map e Live 3D), foram adicionados dois novos recursos: o Live Particle, que mede automaticamente o tamanho e a contagem de partículas em tempo real durante a observação; e o Live Report, que adquire dados automaticamente e gera relatórios à medida que o campo de visão é movido — um recurso disponível apenas em FE-SEMs de última geração. Esses recursos simplificam tarefas rotineiras, tornando-as mais intuitivas e eficientes e oferecendo suporte significativo aos fluxos de trabalho analíticos dos usuários.
[Principais recursos]
1. Ampliação da tensão de aterrissagem para 20 kV para melhoria da resolução (imagem de elétrons secundários: 6 nm; imagem de elétrons retroespalhados: 8 nm)
2. Detector de elétrons retroespalhados aprimorado para melhor qualidade de imagem
3. A nova função Live Particle mede automaticamente o tamanho e a contagem de partículas, simplificando o fluxo de trabalho
4. O Live Report permite a aquisição de dados e a criação de relatórios enquanto se altera o campo de visão, melhorando a eficiência do trabalho
5. A interface gráfica de usuário (GUI) simples e intuitiva foi mantida, com a adição de funções de automação para uma operação mais intuitiva e fácil
[Meta de vendas]
300 unidades/ano
[Link relacionado]
Informações sobre o produto: SEM de bancada JCM-7000Plus NeoScope™
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/jcm-7000plus.php
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Contato:
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Izumi Oi, Presidente e CEO
(Código da ação: 6951, Mercado Prime da Bolsa de Valores de Tóquio)
JEOL Ltd.
Divisão de Vendas SI
https://www.jeol.com/contacts/products.php
Fonte: BUSINESS WIRE
